全新上照式設(shè)計(jì),微聚焦,搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái),無(wú)人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品,且更加智能化,采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn),自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。
XTD-200是一款全自動(dòng)型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀,全新上照式設(shè)計(jì),微聚焦,搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái),無(wú)人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品,且更加智能化,采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn),自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。
掃一掃 微信咨詢
©2025 蘇州福佰特儀器科技有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):蘇ICP備2023016783號(hào)-1 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) sitemap.xml 總訪問(wèn)量:140150 管理登陸